Usted se encuentra revisando un registro bibliográfico de la BDU Para conocer mas sobre la Base de Datos Unificada haga click en el ícono del home

Titulos:
Applied electronic instrumentation and measurement
ISBN:
067521162X
Lugar de Edición:
New York :
Editor:
Macmillan,
Fecha de Edición:
c1992
Notas #:
Glosario p.801-819
Palabras clave:
OSCILOSCOPIOS; CIRCUITOS DIGITALES; AMPLIFICADORES[ELECTRONICOS]; TRANSISTORES; DIODOS SEMICONDUCTORES; CALIBRADO; TRANSDUCTORES; INSTRUMENTOS DE MEDIDA; ELECTRONICA

Leader:
cam
Campo 003:
AR-BaUFI
Campo 008:
960917t1992 xxua|||| |||||||||||eng|c
Campo 020:
^a067521162X
Campo 040:
^aAR-BaUFI
Campo 044:
^axxu^cus
Campo 100:
1 ^aBuchla, David^92630
Campo 245:
00^aApplied electronic instrumentation and measurement
Campo 246:
Campo 260:
^aNew York : ^bMacmillan, ^cc1992
Campo 300:
^axviii, 830 p. : ^bil., fotos, gráfs., tablas ; ^c23 cm
Campo 490:
0 ^aMerril's international series in engineering technology
Campo 500:
^aGlosario p.801-819
Campo 650:
7^aOSCILOSCOPIOS^2INTI^920308
Campo 650:
7^aCIRCUITOS DIGITALES^2EIT^916411
Campo 650:
7^aAMPLIFICADORES[ELECTRONICOS]^2EIT^915567
Campo 650:
7^aTRANSISTORES^2EIT^922361
Campo 650:
7^aDIODOS SEMICONDUCTORES^2EIT^917303
Campo 650:
7^aCALIBRADO^2EIT^916131
Campo 650:
7^aTRANSDUCTORES^2EIT^922326
Campo 650:
7^aINSTRUMENTOS DE MEDIDA^2SP^919161
Campo 650:
7^aELECTRONICA^2SP^917623
Campo 700:
1 ^aMcLachlan, Wayne^99496
Proveniencia:
^aUBA - Facultad de Ingeniería - Biblioteca
Seleccionar y guardar el registro Haga click en el botón del carrito
Institucion:
Universidad de Buenos Aires (UBA)
Dependencia:
Facultad de Ingeniería

Compartir este registro en Redes Sociales

Seleccionar y guardar el registro Haga click en el botón del carrito