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Titulos:
Characterization of materials
ISBN:
3527268154
Lugar de Edición:
Weinheim : New York :
Editor:
VCH,
Fecha de Edición:
1991
Notas #:
Contenido: Part I -- Part II.
Palabras clave:
CARACTERIZACION; MATERIALES; ESPECTROSCOPIA ATOMICA; RAYOS X; MICROSCOPIA ELECTRONICA; HACES IONICOS

Leader:
cam
Campo 003:
AR-BaUFI
Campo 008:
951102s1991 xxua|||| |||||||||||eng|c
Campo 020:
^a3527268154
Campo 040:
^aAR-BaUFI^bspa
Campo 044:
^axxu^cus
Campo 245:
00^aCharacterization of materials
Campo 246:
Campo 260:
^aWeinheim : New York : ^bVCH, ^c1991
Campo 300:
^a2 v. : ^bil., tablas ; ^c24 cm
Campo 490:
0 ^aMaterials Science and Technology^aa comprehensive treatment^vv.2A ; v.2B
Campo 500:
^aContenido: Part I -- Part II.
Campo 650:
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Campo 650:
7^aMATERIALES^2EIT^919635
Campo 650:
7^aESPECTROSCOPIA ATOMICA^2EIT^917975
Campo 650:
7^aRAYOS X^2EIT^921139
Campo 650:
7^aMICROSCOPIA ELECTRONICA^2EIT^919916
Campo 650:
7^aHACES IONICOS^2EIT^918784
Campo 653:
^aMICROSONDA ELECTRONICA DE BARRIDO
Campo 653:
^aSCATTERING DE NEUTRONES
Campo 700:
1 ^aLifshin, Eric^eed.
Proveniencia:
^aUBA - Facultad de Ingeniería - Biblioteca
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Institucion:
Universidad de Buenos Aires (UBA)
Dependencia:
Facultad de Ingeniería

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