Usted se encuentra revisando un registro bibliográfico de la BDU Para conocer mas sobre la Base de Datos Unificada haga click en el ícono del home

Titulos:
Scanning and transmission electron microscopy: an introduction / Stanley L. Flegler, John W. Heckman, Karen L. Klomparens
Idiomas:
spa
ISBN:
0195107519
Lugar de Edición:
New York:
Editor:
Oxford University Press,
Fecha de Edición:
1993
Notas Formateada:
1.Introduction -- 2.Electron sources and electron lenses -- 3.Vacuum systems -- 4.The transmission electron microscope -- 5.The scanning electron microscope -- 6.Specimen preparation for TEM -- 7.Specimen preparation for SEM -- 8.X-ray analysis -- 9.Electron micrographic techniques
Palabras clave:

Leader:
cam
Campo 003:
AR-BaIT
Campo 008:
090904s1993t |||||||||||||||||spa
Campo 020:
^a0195107519
Campo 040:
^aITBA^cITBA
Campo 041:
0 ^aspa
Campo 100:
1 ^aFlegler, Stanley L.^96259
Campo 245:
10^aScanning and transmission electron microscopy:^ban introduction /^cStanley L. Flegler, John W. Heckman, Karen L. Klomparens
Campo 246:
Campo 260:
^aNew York:^bOxford University Press,^c1993
Campo 300:
^aviii, 225 p.
Campo 505:
0 ^a1.Introduction -- 2.Electron sources and electron lenses -- 3.Vacuum systems -- 4.The transmission electron microscope -- 5.The scanning electron microscope -- 6.Specimen preparation for TEM -- 7.Specimen preparation for SEM -- 8.X-ray analysis -- 9.Electron micrographic techniques
Campo 700:
1 ^97916^aHeckman, John William
Campo 700:
1 ^aKlomparens, Karen L.^99222
Proveniencia:
^aInstituto Tecnológico Buenos Aires (ITBA) - Biblioteca
Seleccionar y guardar el registro Haga click en el botón del carrito
Institucion:
Instituto Tecnológico Buenos Aires (ITBA)
Dependencia:
Biblioteca

Compartir este registro en Redes Sociales

Seleccionar y guardar el registro Haga click en el botón del carrito