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Titulos:
X-ray optics and microanalysis.
Lugar de Edición:
Midland :
Editor:
Pendell publ.,
Fecha de Edición:
1980.
Palabras clave:
MICROSCOPIA ELECTRONICA -CONGRESOS; MICROSCOPIOS ELECTRONICOS DE BARRIDO
Leader:
nam
Campo 003:
AR-SmCIES
Campo 008:
170703s1980#### ||||f#|||||10| 0#uuu#d
Campo 100:
1 ^aBeaman, D. R. et al^eed
Campo 245:
10^aX-ray optics and microanalysis.
Campo 246:
Campo 260:
^aMidland :^bPendell publ.,^c1980.
Campo 300:
^a665 p.
Campo 650:
4^aMICROSCOPIA ELECTRONICA -CONGRESOS
Campo 650:
4^aMICROSCOPIOS ELECTRONICOS DE BARRIDO
Campo 710:
2 ^aMicrobean analysis society
Campo 711:
2 ^aInternational congress on x-ray optics and microanalysis^n8^cBoston, Mass.,US^d1977
Proveniencia:
^aComisión Nacional de Energía Atómica CNEA - Sistema de Bibliotecas
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Institucion:
Comision Nacional de Energia Atomica (CNEA)
Dependencia:
Sistema de Bibliotecas

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