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Titulos:
ADVANCES in X-ray analysis.
Idiomas:
en
Lugar de Edición:
New YorkLondon :
Editor:
Plenum pressI. Pitman and sons, ltd.,
Fecha de Edición:
1960-.
Notas #:
Bibliografía al final de cada artículo
Palabras clave:
RAYOS X -ANALISIS
Leader:
nam
Campo 003:
AR-SmCIES
Campo 008:
170703m1960uuuunyuad||f#|||||00| 0#eng#d
Campo 041:
7^aen ^2ISO 639-1
Campo 110:
2 ^aConference on applications of X-ray analysis^n6- ^cDenver, Colo,US^d1957-
Campo 245:
10^aADVANCES in X-ray analysis.
Campo 246:
Campo 260:
^aNew YorkLondon :^bPlenum pressI. Pitman and sons, ltd.,^c1960-.
Campo 300:
^a v. :^bil., tabla, diagr. ; 23,5-25,5 cm.
Campo 500:
^aBibliografía al final de cada artículo
Campo 650:
4^aRAYOS X -ANALISIS
Campo 711:
2 ^aConference on industrial applications of X-ray analysis^n6-^cDenver, Colo,US^d1957-
Proveniencia:
^aComisión Nacional de Energía Atómica CNEA - Sistema de Bibliotecas
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Institucion:
Comision Nacional de Energia Atomica (CNEA)
Dependencia:
Sistema de Bibliotecas

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