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Titulos:
Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis.
Idiomas:
en
Lugar de Edición:
New York and London :
Editor:
Plenum press,
Fecha de Edición:
1975.
Notas #:
Bibliografía al final de cada capítulo
Palabras clave:
MICROSCOPIA ELECTRONICA
Leader:
nam
Campo 003:
AR-SmCIES
Campo 008:
170703s1975####nyua|||f#|||||00| 0#eng#d
Campo 041:
7^aen ^2ISO 639-1
Campo 100:
1 ^aGoldstein, Joseph I.^d1939- ^eed.
Campo 245:
10^aPractical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis.
Campo 246:
Campo 260:
^aNew York and London :^bPlenum press,^c1975.
Campo 300:
^a582 p. :^bil. ; 23 cm.
Campo 500:
^aBibliografía al final de cada capítulo
Campo 650:
4^aMICROSCOPIA ELECTRONICA
Campo 700:
1 ^aYakowitz, Harvey^eed.
Proveniencia:
^aComisión Nacional de Energía Atómica CNEA - Sistema de Bibliotecas
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Institucion:
Comision Nacional de Energia Atomica (CNEA)
Dependencia:
Sistema de Bibliotecas

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