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Titulos:
Total reflection X ray fluorescence analysis.
Idiomas:
en
ISBN:
0471305243
Lugar de Edición:
New York :
Editor:
John Wiley,
Fecha de Edición:
1997.
Notas #:
Bibliografía al final de cada capítulo
Palabras clave:
ANALISIS FLUORIMETRICO; ANALISIS ESPECTROQUIMICO

Leader:
nam
Campo 003:
AR-SmCIES
Campo 008:
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Campo 020:
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Campo 041:
7^aen ^2ISO 639-1
Campo 100:
1 ^aKlockenkämper, Reinhold
Campo 245:
10^aTotal reflection X ray fluorescence analysis.
Campo 246:
Campo 260:
^aNew York :^bJohn Wiley,^c1997.
Campo 300:
^axvii, 245 p. :^bil.
Campo 490:
1 ^aChemical analysis, v.<140>
Campo 500:
^aBibliografía al final de cada capítulo
Campo 650:
4^aANALISIS FLUORIMETRICO
Campo 650:
4^aANALISIS ESPECTROQUIMICO
Proveniencia:
^aComisión Nacional de Energía Atómica CNEA - Sistema de Bibliotecas
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Institucion:
Comision Nacional de Energia Atomica (CNEA)
Dependencia:
Sistema de Bibliotecas

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