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Titulos:
Particleinduced Xray emission spectrometry [PIXE].
Idiomas:
en
ISBN:
0471589446
Lugar de Edición:
New York :
Editor:
John Wiley,
Fecha de Edición:
1995.
Notas #:
Bibliografía al final de cada capítulo
Palabras clave:
ANALISIS POR ESPECTROS DE EMISION; PIXE

Leader:
nam
Campo 003:
AR-SmCIES
Campo 008:
170703s1995####nyua|||f#|||||00| 0#eng#d
Campo 020:
^a0471589446
Campo 041:
7^aen ^2ISO 639-1
Campo 100:
1 ^aJohansson, Sven A. E.^eed.
Campo 245:
10^aParticleinduced Xray emission spectrometry [PIXE].
Campo 246:
Campo 260:
^aNew York :^bJohn Wiley,^c1995.
Campo 300:
^axxiii, 451 p. :^bil.
Campo 490:
1 ^aChemical analysis, no.<133>
Campo 500:
^aBibliografía al final de cada capítulo
Campo 650:
4^aANALISIS POR ESPECTROS DE EMISION
Campo 650:
4^aPIXE
Campo 700:
1 ^aCampbell, John L.^eed.
Campo 700:
1 ^aMalmqvist, Klas G.^eed.
Proveniencia:
^aComisión Nacional de Energía Atómica CNEA - Sistema de Bibliotecas
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Institucion:
Comision Nacional de Energia Atomica (CNEA)
Dependencia:
Sistema de Bibliotecas

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