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Titulos:
Quantitative X-ray diffractometry / Lev S. Zevin, Giora Kimmel ; edited by Inez Mureinik.
ISBN:
0387945415 (hc : alk. paper)
Lugar de Edición:
New York :
Editor:
Springer,
Fecha de Edición:
c1995.
Notas #:
References. Index
Palabras clave:
X-rays; X-rays; X-RAYS, DIFFRACTION; X-RAYS, DIFFRACTION-APLICACIONES

Leader:
cam
Campo 003:
OCoLC
Campo 008:
950504s1995 nyua b 001 0 eng
Campo 020:
^a0387945415 (hc : alk. paper)
Campo 035:
^a193957
Campo 040:
^aDLC^cDLC^dUKM
Campo 100:
1 ^aZevin, Lev S.
Campo 245:
10^aQuantitative X-ray diffractometry /^cLev S. Zevin, Giora Kimmel ; edited by Inez Mureinik.
Campo 246:
Campo 260:
^aNew York :^bSpringer,^cc1995.
Campo 300:
^axvii, 372 p. :^bill. ;^c25 cm.
Campo 500:
^aReferences. Index
Campo 650:
0^aX-rays^xDiffraction^xIndustrial applications.
Campo 650:
0^aX-rays^xDiffraction.
Campo 650:
4^aX-RAYS, DIFFRACTION
Campo 650:
4^aX-RAYS, DIFFRACTION-APLICACIONES
Campo 653:
0 ^aX-rays^aDiffraction
Campo 700:
1 ^aKimmel, Giora.
Campo 700:
1 ^aMureinik, Inez.
Proveniencia:
^aUnLitoral
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Institucion:
Base de Datos MARC21 - OCLC
Dependencia:
BDUMARC21

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