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Titulos:
X-ray and electron methods of analysis. Edited by H. Van Olphen and William Parrish.
Lugar de Edición:
New York,
Editor:
Plenum Press,
Fecha de Edición:
1968.
Palabras clave:
Crystallography; Spectrum Analysis; X-ray crystallography.; X-Ray Diffraction; X-ray spectroscopy.
Leader:
cam
Campo 003:
OCoLC
Campo 008:
681209s1968 nyua b 100 0 eng
Campo 110:
2 ^aEastern Analytical Symposium,^cNew York,^d1966.
Campo 245:
10^aX-ray and electron methods of analysis.^cEdited by H. Van Olphen and William Parrish.
Campo 246:
Campo 260:
^aNew York,^bPlenum Press,^c1968.
Campo 300:
^ax, 164 p.^billus.^c24 cm.
Campo 490:
0 ^aProgress in analytical chemistry, v. 1
Campo 650:
2^aCrystallography^vcongresses.
Campo 650:
2^aSpectrum Analysis^vcongresses.
Campo 650:
0^aX-ray crystallography.
Campo 650:
2^aX-Ray Diffraction^vcongresses.
Campo 650:
0^aX-ray spectroscopy.
Campo 700:
1 ^aVan Olphen, H.,^d1912-^eed.
Campo 700:
1 ^aParrish, William,^d1914-^eed.
Proveniencia:
^aUBA-EX
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Institucion:
Base de Datos MARC21 - OCLC
Dependencia:
BDUMARC21

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